高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.4-2008適用于確定組件，設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度和高溫循環(huán)變化條件下的適應(yīng)性，通常會(huì)在測(cè)試樣品的表面產(chǎn)生冷凝。如果此測(cè)試用于在運(yùn)輸和存儲(chǔ)過(guò)程中測(cè)試包裝樣品的性能，則該測(cè)試應(yīng)與包裝一起進(jìn)行。

　　對(duì)于使用此測(cè)試的小而輕的樣品，可能難以在樣品表面上產(chǎn)生凝結(jié)。用戶應(yīng)考慮使用其他替代測(cè)試，例如GB/T2423.34-2005。

　　高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.4-2008的規(guī)范性引用文件如下：

　　GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則

　　GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)

　　GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫濕度聯(lián)合循環(huán)試驗(yàn)

　　GB/T2423.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)。